PSS粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和擁有的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有優(yōu)勢。
 

　　技術(shù)優(yōu)勢：
 

　　1、靈敏度PMT檢測器；
 

　　2、可搭配不同功率光源；
 

　　3、精確度高，接近樣品真實值；
 

　　4、快速檢測，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；
 

　　5、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；
 

　　6、無需校準(zhǔn)；
 

　　7、復(fù)合型算法：
 

　　(1)高斯(Gaussion)單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換
 

　　8、模塊化設(shè)計便于維護和升級；
 

　　(1)可自動稀釋模塊(選配)；
 

　　(2)自動進(jìn)樣系統(tǒng)(選配)；
 

　　(3)搭配多角度檢測器(選配)。